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          CAF測試/耐CAF測試(離子遷移測試)

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          何為CAF?


          ?    Conductive (傳導())、Anodic (陽極的)、Filaments (細絲、細線)

          ?    導電性細絲物=陽極性玻纖紗式漏電 (短路)

          ?    玻璃紗束或紗束與樹脂之細縫,造成兩導體出現金屬銅的遷移稱為CAF,離子化金屬向相反電極間移動(陰極向陽極生長)

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          CAF測試主要評價是PCB基板耐性的一種評估手段,常規的測試有在線和非在線。

          CAF的種類

          ?    V (Hole to Hole)

          ?    V (Layer to Layer)

          ?    線路 V 線路 (Line to Line)(梳形電路)

          ?    V (Hole to Line)

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          測試方法


          定義

          將測試之位置焊上測試線,其測試板暴露在高溫高濕的環境中,并施加偏壓,觀察絕緣劣化及絕緣電阻值的變化,以測試產品的絕緣阻值是否符合規格之試驗。

           image.png                                              

          Cisco:65/85%RH/96H,10V偏壓、50V量測電壓

          Lenovo:50/80%RH/24H,15V偏壓、15V量測電壓

          Spec:>100MΩ (108Ω)


          設備容量測試能力

          1測試通道社內共計3300通道;

          2測試電壓范圍1-1000V;

          3測試頻率可滿足200ms測試頻度;

          4監控品牌:Jras/IMV/ESPEC/Qualtec(社內開發)

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          失效板分析&案例圖片

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          特殊案例——層(孔)偏

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